矽光子和PIC測試

矽光子和PIC測試

矽光子和光子集成最/全麵、最快速的測試方案

LUNA提供基於(yu) 光頻域反射技術（OFDR）的獨/特測試係統，和為(wei) 現代矽光子 集成器件提供準確和快速的測試方案。

10μm空間分辨率的器件光路損耗測試

Luna的超高空間分辨率背光反射計，具備背向散射級的探測靈敏度，為(wei) 光無源 器件提供前/所未有的分布式損耗分析。

一台設備即可測試器件的全部光學參數

Luna光矢量分析儀(yi) （OVA）能夠通過對光無源器件的一次掃描測量，即可完成 對線性傳(chuan) 輸矩陣 (瓊斯矩陣)、插入損耗 (IL)、群延時 (GD)、色散 (CD)、偏振模 色散 (PMD)、偏振相關(guan) 損耗 (PDL) 等關(guan) 鍵光學參數的測量。

全新6415光器件分析儀(yi)

Luna全新的6415是一款同時具備高測量頻率和高空間分辨率的背光反射計產(chan) 品，同時可提供插入損耗（IL）的透射測試和分析模式，是產(chan) 線檢測和品質控 製的理想選擇。

應用

Ø生產(chan) 測試

Ø質量控製

Ø生產(chan) 問題診斷

Ø設計表征與(yu) 分析

Ø驗證模型並改進仿真

Ø無源光器件和模塊：濾波器、PLC、AWG、MUX/DEMUX、 分光器、光柵、WSS、ROADMs等

示例：平麵光波導的表征

平麵光波導作為(wei) 矽光子平台的關(guan) 鍵組成部分，對測量方法提出了 更高的挑戰，包括在單位長度內(nei) 存在更大的損耗、更高的偏振相 關(guan) 性等等。

Luna的掃描激光幹涉技術，能夠通過對器件的掃描，獲得沿器件光路的 亞(ya) 毫米級空間分辨率的損耗測量結果，同時也可獲得更全麵的其他光學參 數指標。比如對波導光柵的測量，我們(men) 能夠同時獲得波導光柵在時域上的 端麵及尺度特性，以及在頻域上的頻譜響應特性。

使用Luna的分析軟件，您可以區分並挑選合適的光柵反射區域，從(cong) 而可 以輕鬆觀察到TM模和TE模在頻譜響應中表現出的不同偏振效應。否則， 整體(ti) 頻譜響應（如下圖中紅色曲線所示）將被很強的端麵反射造成的頻譜 響應所充滿。

時域響應結果顯示，強烈的端麵反射和波導光柵反射能夠被清晰 的區分和呈現。

通過時域響應能夠很容易地確定光柵反射峰值，從(cong) 而可僅(jin) 對光柵部 分進行頻譜分析（藍色曲線）。波導的整體(ti) 頻譜響應如紅色曲線所示。

*的矽光子和 PIC 測試解決(jue) 方案

Luna*的光學測量係列產(chan) 品，基於(yu) 光頻域反射技術（OFDR），具有業(ye) 界領/先的測試動態範圍、時域和頻譜測試分辨率以及 測試速度。

矽光子和PIC測試