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Edmund 極紫外 (EUV) 二向色濾光片

簡要描述:Edmund 極紫外 (EUV) 二向色濾光片,也稱為(wei) 光束分離器,旨在通過在 EUV 和 NIR 波長之間提供高分離效率,用於(yu) 高諧波產(chan) 生應用。 這些濾光片采用高損傷(shang) 閾值多層增透膜設計,支持比布魯斯特角光束分離器和 EUV 濾光片更高的激光功率。 EUV 二向色濾光片具有從(cong) 5nm 到 40nm 的寬帶寬範圍。

  • 產品品牌:其他品牌
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2022-06-27
  • 訪  問  量:1566

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間麵議
組件類別雷竞技竞彩底金應用領域醫療衛生,環保,化工,電子

Edmund 極紫外 (EUV) 二向色濾光片

  • 將 EUV 與(yu)  NIR 激光源分開

  • 透射型熔融石英設計最大限度地延長組件使用壽命

  • 支持 13.5nm、20nm 和 30nm 應用

Edmund 極紫外 (EUV) 二向色濾光片,也稱為(wei) 光束分離器,旨在通過在 EUV 和 NIR 波長之間提供高分離效率,用於(yu) 高諧波產(chan) 生應用。 這些濾光片采用高損傷(shang) 閾值多層增透膜設計,支持比布魯斯特角光束分離器和 EUV 濾光片更高的激光功率。 EUV 二向色濾光片具有從(cong)  5nm 到 40nm 的寬帶寬範圍。 除了產(chan) 生高次諧波外,這些反射鏡還可用於(yu) 支持 EUV 應用的係統,例如 EUV 光刻、EUV 納米加工和等離子體(ti) 實驗。

通用規格


尺寸容差 (mm):+0.0/-0.2直徑 (mm):50.80
厚度 (mm):5.08 ±0.1鍍膜:Dielectric Multilayer AR
基底:Fused Silica表麵質量:20-10
平行度(弧分):<5麵形計算 (RMS):<λ/10 @ 633nm


產(chan) 品型號


波長範圍 (nm)產品編碼
10 - 25#18-279
20 - 40#18-280


產(chan) 品谘詢

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